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x射線熒光光譜儀的原理 X熒光光譜儀的優(yōu)缺點(diǎn)

摘要:x射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法,可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析范圍為Be到U。近年來(lái),X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域,特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得最多也最廣泛。下面來(lái)了解下x射線熒光光譜儀的原理以及X熒光光譜儀的優(yōu)缺點(diǎn)。

一、x射線熒光光譜儀的原理

X射線熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生發(fā)射X射線(一次X射線),激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素都會(huì)放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量。然后,儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷,同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長(zhǎng)的X射線,根據(jù)莫斯萊定律,熒光X射線的波長(zhǎng)λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān),其數(shù)學(xué)關(guān)系如下:λ=K(Z s)2(K和S是常數(shù))。根據(jù)量子理論,X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流,每個(gè)光具有的能量為:E=hν=h C/λ(E為X射線光子的能量,單位為keV;h為普朗克常數(shù);ν為光波的頻率;C為光速)。因此,只要測(cè)出熒光X射線的波長(zhǎng)或者能量,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。

二、X熒光光譜儀的優(yōu)缺點(diǎn)

優(yōu)點(diǎn):

1、分析速度快。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān),但一般都很短,10~300秒就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。

2、X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定。

3、非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量,結(jié)果重現(xiàn)性好。

4、X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。

5、分析精密度高。含量測(cè)定已經(jīng)達(dá)到ppm級(jí)別。

6、制樣簡(jiǎn)單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

缺點(diǎn):

1、定量分析需要標(biāo)樣。

2、對(duì)輕元素的靈敏度要低一些。

3、容易受元素相互干擾和疊加峰影響。

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